inglês
Format: | Online |
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Published: |
New York : Springer,
2011
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Online Access: |
https://consultaredebie.decex.eb.mil.br/pergamum/biblioteca/index.php?codAcervo=426458 |
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id |
ir-perga-oai-426458 |
---|---|
recordtype |
redebie |
spelling |
ir-perga-oai-4264582019-03-07T15:13:09Z inglês Dependability in electronic systems : mitigation of hardware failures, soft errors, and electro-magnetic disturbances 621.381 22.ed. sistemas eletrônico - confiabilidade New York : Springer, Kanekawa, Nobuyasu autor Ibe, Eish H. autor Suga, Takashi autor Uematsu, Yutaka autor 2011. https://consultaredebie.decex.eb.mil.br/pergamum/biblioteca/index.php?codAcervo=426458 |
institution |
REDEBIE |
collection |
REDEBIE |
format |
Online |
title |
inglês |
spellingShingle |
inglês |
title_short |
inglês |
title_full |
inglês |
title_fullStr |
inglês |
title_full_unstemmed |
inglês |
title_sort |
inglês |
publisher |
New York : Springer, |
publishDate |
2011 |
url |
https://consultaredebie.decex.eb.mil.br/pergamum/biblioteca/index.php?codAcervo=426458 |
_version_ |
1689972624245915648 |
score |
13.657419 |